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| >>恒溫恒濕試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié) |
| 恒溫恒濕試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié) |
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| 時(shí)間：2015/3/6 8:32:25 |
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié):
GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.9-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.5-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 恒定濕熱試驗(yàn)》
GJB4.6-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 交變濕熱試驗(yàn)》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法103穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法106耐濕試驗(yàn)
GJB367A－2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.29 濕熱
GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》
GB/T2423.4-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》
GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》
SJ/T 10325-92《汽車(chē)收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.3 恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法》
恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。
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相關(guān)資料 |
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