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| >>恒溫恒濕試驗箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)解析 |
| 恒溫恒濕試驗箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)解析 |
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| 時間：2013/1/7 |
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恒溫恒濕試驗箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本標(biāo)準(zhǔn)出適用類似試驗設(shè)備的檢驗。
恒溫恒濕試驗箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范性引用文件：
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉
GB/T2423.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
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